科研成果

测量材料表面电荷密度的方法

专利名称: 测量材料表面电荷密度的方法
英文名称: 测量材料表面电荷密度的方法
专利类别: 发明
申请号: 200810100820.2
申请日期: 2008-2-22
授权日期:
专利号: ZL200810100820.2
第一发明人: 戚桂村
其它发明人: 杨延莲; 严昊; 关丽; 裘晓辉; 王琛
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:
   

关闭窗口

返回首页